Ultrafast carrier dynamics in tetrahedral amorphous carbon: carrier trapping versus electron-hole recombination (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Ultrafast carrier dynamics in tetrahedral amorphous carbon: carrier trapping versus electron-hole recombination (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1088/1367-2630/9/11/404 (literal)

Alternative label

• Carpene E.; Mancini E.; Dallera C.; Schwen D.; Ronning C.; De Silvestri S. (2007)
  Ultrafast carrier dynamics in tetrahedral amorphous carbon: carrier trapping versus electron-hole recombination
  in New journal of physics
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Carpene E.; Mancini E.; Dallera C.; Schwen D.; Ronning C.; De Silvestri S. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 9 (literal)

Rivista

• New journal of physics (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 10 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Politecn Milan, Dipartimento Fis, ULTRAS CNR INFM, I-20133 Milan, Italy; Univ Gottingen, Zweites Phys Inst, D-37077 Gottingen, Germany (literal)

Titolo

• Ultrafast carrier dynamics in tetrahedral amorphous carbon: carrier trapping versus electron-hole recombination (literal)

Abstract

• We report the investigation of the ultrafast carrier dynamics in thin tetrahedral amorphous carbon films by means of femtosecond time-resolved reflectivity. We estimated the electron - phonon relaxation time of a few hundred femtoseconds and we observed that under low optical excitation photo-generated carriers decay according to two distinct mechanisms attributed to trapping by defect states and direct electron - hole recombination. With high excitation, when photo-carrier and trap densities are comparable, a unique temporal evolution develops, as the time dependence of the trapping process becomes degenerate with the electron -hole recombination. This experimental evidence highlights the role of defects in the ultrafast electronic dynamics and is not specific to this particular form of carbon, but has general validity for amorphous and disordered semiconductors. (literal)

Prodotto di

• Fotonica ultrabreve dall'infrarosso al EUV: applicazioni a materiali e dispositivi per ICT, magnetismo, biomedicina e nanoscienze (MD.P03.008.001) (Modulo)
• Materia soffice: diffusione elastica ed anelastica di neutroni e raggi-x (MD.P02.016.001) (Modulo)
• Generazione di radiazione X ultrabeve (MD.P03.007.001) (Modulo)

Autore CNR

• ETTORE CARPENE (Unità di personale interno)
• CLAUDIA DALLERA (Persona)
• SANDRO DE SILVESTRI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Ultrafast carrier dynamics in tetrahedral amorphous carbon: carrier trapping versus electron-hole recombination" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• ETTORE CARPENE (Unità di personale interno)
• SANDRO DE SILVESTRI (Persona)
• CLAUDIA DALLERA (Persona)

Prodotto

• Fotonica ultrabreve dall'infrarosso al EUV: applicazioni a materiali e dispositivi per ICT, magnetismo, biomedicina e nanoscienze (MD.P03.008.001) (Modulo)
• Generazione di radiazione X ultrabeve (MD.P03.007.001) (Modulo)
• Materia soffice: diffusione elastica ed anelastica di neutroni e raggi-x (MD.P02.016.001) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• New journal of physics (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Ultrafast carrier dynamics in tetrahedral amorphous carbon: carrier trapping versus electron-hole recombination" (Insieme di parole chiave)