Modellizzazione Elettromeccanica e degli Effetti di Carica in RF MEMS (Risultati di valorizzazione applicativa)

Type

• Risultati di valorizzazione applicativa (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Modellizzazione Elettromeccanica e degli Effetti di Carica in RF MEMS (Risultati di valorizzazione applicativa) (literal)

Anno

• 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Marcelli R, De Angelis G, Lucibello A, Proietti E, Bartolucci G (2008)
  Modellizzazione Elettromeccanica e degli Effetti di Carica in RF MEMS
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Marcelli R, De Angelis G, Lucibello A, Proietti E, Bartolucci G (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IMM RomA Università di Roma \"Tor Vergata\" (literal)

Titolo

• Modellizzazione Elettromeccanica e degli Effetti di Carica in RF MEMS (literal)

Prodotto di

• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• GIORGIO DE ANGELIS (Persona)
• ANDREA LUCIBELLO (Unità di personale esterno)
• GIANCARLO BARTOLUCCI (Unità di personale esterno)
• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• EMANUELA PROIETTI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Modellizzazione Elettromeccanica e degli Effetti di Carica in RF MEMS" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• EMANUELA PROIETTI (Persona)
• ANDREA LUCIBELLO (Unità di personale esterno)
• GIANCARLO BARTOLUCCI (Unità di personale esterno)
• GIORGIO DE ANGELIS (Persona)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Modellizzazione Elettromeccanica e degli Effetti di Carica in RF MEMS" (Insieme di parole chiave)