Advanced characterisation of materials and devices (Curatela)

Type
Label
  • Advanced characterisation of materials and devices (Curatela) (literal)
Anno
  • 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Raineri V, Vandervorst W, Rosenwacks Y (2003)
    Advanced characterisation of materials and devices
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#riferimentiBibliografici
  • Material Science and Engineering B vol 102 issues 1-3 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriCuratela
  • Raineri V, Vandervorst W, Rosenwacks Y (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatori
  • Raineri V, Vandervorst W, Rosenwacks Y (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto
  • Proceedings symposium E “Advanced characterization of semiconductor materials and devices” in the European Material Research Society Meeting 22 - 28 June 2002 Strasbourg, France. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • IMEC University of Tel Aviv (literal)
Titolo
  • Advanced characterisation of materials and devices (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#tipoDiCuratela
  • Supplemento (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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