http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID146407
Advanced characterisation of materials and devices (Curatela)
- Type
- Label
- Advanced characterisation of materials and devices (Curatela) (literal)
- Anno
- 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#riferimentiBibliografici
- Material Science and Engineering B vol 102 issues 1-3 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriCuratela
- Raineri V, Vandervorst W, Rosenwacks Y (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatori
- Raineri V, Vandervorst W, Rosenwacks Y (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto
- Proceedings symposium E “Advanced characterization of semiconductor materials and devices” in the European Material Research Society Meeting 22 - 28 June 2002 Strasbourg, France. (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- IMEC
University of Tel Aviv (literal)
- Titolo
- Advanced characterisation of materials and devices (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#tipoDiCuratela
- Prodotto di
- Autore CNR
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