Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi (Curatela)

Type

• Curatela (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi (Curatela) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• (2006)
  Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi
  
  (literal)

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• Bologna (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriCuratela

• Fontana R., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L., Seccaroni C. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• INOA - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy ENEA, MAT-QUAL, C.R. Casaccia, s.p. Anguillarese 301, 00060 Santa Maria di Galeria, Roma, Italy (literal)

Titolo

• Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi (literal)

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• Innovazioni tecnologiche per i beni culturali in Italia. Atti del Convegno di Caserta 2005 (literal)

Editore

• Patron (Editore)

Prodotto di

• Dispositivi ottici e metodologie per il patrimonio culturale (MD.P03.019.001) (Modulo)

Autore CNR

• LUCA PEZZATI (Persona)
• ENRICO PAMPALONI (Persona)
• RAFFAELLA FONTANA (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• RAFFAELLA FONTANA (Unità di personale interno)
• LUCA PEZZATI (Persona)
• ENRICO PAMPALONI (Persona)

Prodotto

• Dispositivi ottici e metodologie per il patrimonio culturale (MD.P03.019.001) (Modulo)

Editore di

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Insieme di parole chiave di

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