http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144189
Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi (Curatela)
- Type
- Label
- Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi (Curatela) (literal)
- Anno
- 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#citta
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriCuratela
- Fontana R., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L., Seccaroni C. (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- INOA - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy ENEA, MAT-QUAL, C.R. Casaccia, s.p. Anguillarese 301, 00060 Santa Maria di Galeria, Roma, Italy (literal)
- Titolo
- Micro-profilometria a scansione per il rilievo della superficie di dipinti antichi (literal)
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- Innovazioni tecnologiche per i beni culturali in Italia. Atti del Convegno di Caserta 2005 (literal)
- Editore
- Prodotto di
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