Charging Effects and related Equivalent Circuits for Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type
Label
  • Charging Effects and related Equivalent Circuits for Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)
Anno
  • 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • George Papaioannu, Romolo Marcelli, Giancarlo Bartolucci, Simone Catoni, Giorgio De Angelis, Andrea Lucibello, Emanuela Proietti, Benno Margesin, Flavio Giacomozzi, François Deborgies (2009)
    Charging Effects and related Equivalent Circuits for Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches
    Editura Academiei Române, Bucuresti (Romania) in New Developments in Micro Electro Mechanical Systems for Radio Frequency and Millimeter Wave Applications, 2009
    (literal)
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  • George Papaioannu, Romolo Marcelli, Giancarlo Bartolucci, Simone Catoni, Giorgio De Angelis, Andrea Lucibello, Emanuela Proietti, Benno Margesin, Flavio Giacomozzi, François Deborgies (literal)
Pagina inizio
  • 73 (literal)
Pagina fine
  • 80 (literal)
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  • Bucuresti (literal)
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  • http://www.nano-link.net/mne/ (literal)
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  • New Developments in Micro Electro Mechanical Systems for Radio Frequency and Millimeter Wave Applications (literal)
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  • 15 (literal)
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  • 8 (literal)
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  • CNR-IMM Roma Università di Roma \"Tor Vergata\" University of Athens ESA-ESTEC Noordwijk FBK-irst (literal)
Titolo
  • Charging Effects and related Equivalent Circuits for Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches (literal)
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  • New Developments in Micro Electro Mechanical Systems for Radio Frequency and Millimeter Wave Applications (literal)
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  • 978-973-27-1813-1 (literal)
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  • AA.VV. (literal)
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  • George Konstantinidis, Alexandru Muller, Dan Dascalu and Robert Plana (literal)
Abstract
  • charging effect in dielectrics are considered the major limiting factor for reliability of RF MEMS. Modeling is proposed for charging by using lumped elements too. (literal)
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