Structural and electronic properties of thin Ni layers on Cu(111) as investigated by ARPES, STM and GIXD (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Structural and electronic properties of thin Ni layers on Cu(111) as investigated by ARPES, STM and GIXD (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/j.susc.2006.01.104 (literal)

Alternative label

• Mulazzi, M; Stanescu, S; Fujii, J; Vobornik, I; Boeglin, C; Belkhou, R; Rossi, G; Barbier, A (2006)
  Structural and electronic properties of thin Ni layers on Cu(111) as investigated by ARPES, STM and GIXD
  in Surface science
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Mulazzi, M; Stanescu, S; Fujii, J; Vobornik, I; Boeglin, C; Belkhou, R; Rossi, G; Barbier, A (literal)

Pagina inizio

• 3938 (literal)

Pagina fine

• 3942 (literal)

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• http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602806004304 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 600 (literal)

Rivista

• Surface science (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• SOLEIL Synchrotron Orme Merisiers St Aubin, F-91192 Gif Sur Yvette, France; TASC Lab, APE Beamline, I-34012 Trieste, Italy; Univ Modena, Dipartimento Fis, I-41100 Modena, Italy; ESRF, Grenoble, France; IPCMS, Strasbourg, France (literal)

Titolo

• Structural and electronic properties of thin Ni layers on Cu(111) as investigated by ARPES, STM and GIXD (literal)

Abstract

• The growth and the crystalline and electronic structure of Ni deposited on single crystalline Cu(111) were studied by scanning tunnelling microscopy (STM), grazing incidence X-ray diffraction (GIXD) and angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES). In the early stages of growth monoatomic-high flat Ni islands, partially covered by Cu migrating from the surface, are observed. Starting from a pseudomorphic epitaxial relationship the in-plane lattice parameter progressively relaxes with increasing coverage. For a 20 monolayer (ML) thick deposit the in-plane lattice parameter is still found halfway between the bulk Ni and Cu lattice parameters. ARPES data also rule out the layer-by-layer growth and provide the values of the Ni exchange splitting. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved. (literal)

Prodotto di

• Proprieta' elettroniche e strutturali di sistemi a bassa dimensionalita' (MD.P06.016.001) (Modulo)
• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)

Autore CNR

• GIORGIO ROSSI (Unità di personale esterno)
• JUN FUJII (Unità di personale interno)
• IVANA VOBORNIK (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Structural and electronic properties of thin Ni layers on Cu(111) as investigated by ARPES, STM and GIXD" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• IVANA VOBORNIK (Persona)
• JUN FUJII (Unità di personale interno)
• GIORGIO ROSSI (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)
• Proprieta' elettroniche e strutturali di sistemi a bassa dimensionalita' (MD.P06.016.001) (Modulo)

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• Surface science (Rivista)

Insieme di parole chiave di

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