http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID132052
A new insight on crystalline strain and defect features by STEMADF imaging (Comunicazione a convegno)
- Type
- Label
- A new insight on crystalline strain and defect features by STEMADF imaging (Comunicazione a convegno) (literal)
- Anno
- 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Grillo V. and F. Rossi (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
- Beijing - China8-13 August 2010
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- CNR NANO - S3 Modena (literal)
- Titolo
- A new insight on crystalline strain and defect features by STEMADF imaging (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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- Prodotto