Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica (Comunicazione a convegno)

Type
Label
  • Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica (Comunicazione a convegno) (literal)
Anno
  • 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C. (2010)
    Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica
    in XCVI Congresso Nazionale Societa' Italiana di Fisica, Bologna
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto
  • La microscopia a scansione di conduttanza ionica (SICM) viene usata in modalità non invasiva per ottenere mappe topografiche cellulari. Scegliendo opportunamente le condizioni di lavoro, tra cui la distanza di lavoro della sonda, la scansione può orientare i coni di crescita neuronali. Il confine tra i due regimi è stato studiato accoppiando al sistema SICM un microscopio a forza atomica (AFM), capace di misurare le forze esercitate dalla sonda nelle diverse modalità di lavoro. La caratterizzazione dell’interazione sonda-campione apre nuove possibilità, come la misura delle deformazioni che la sonda induce sul substrato. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • INO (literal)
Titolo
  • Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica (literal)
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