Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement (Comunicazione a convegno)

Type
Label
  • Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement (Comunicazione a convegno) (literal)
Anno
  • 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Fontana R., Daffara C., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L. (2007)
    Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement
    in SPIE International Symposium Optical Metrology: Optics for Arts, Architecture and Archaeology, Munich, Germany
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Fontana R., Daffara C., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
  • 18-21 June 2007 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Florence, Italy (literal)
Titolo
  • Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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