Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement (Comunicazione a convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Comunicazione a convegno (Classe)

Label

• Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement (Comunicazione a convegno) (literal)

Anno

• 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Fontana R., Daffara C., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L. (2007)
  Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement
  in SPIE International Symposium Optical Metrology: Optics for Arts, Architecture and Archaeology, Munich, Germany
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Fontana R., Daffara C., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note

• 18-21 June 2007 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Florence, Italy (literal)

Titolo

• Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement (literal)

Prodotto di

• Dispositivi ottici e metodologie per il patrimonio culturale (MD.P03.019.001) (Modulo)

Autore CNR

• ENRICO PAMPALONI (Persona)
• LUCA PEZZATI (Persona)
• RAFFAELLA FONTANA (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• RAFFAELLA FONTANA (Unità di personale interno)
• LUCA PEZZATI (Persona)
• ENRICO PAMPALONI (Persona)

Prodotto

• Dispositivi ottici e metodologie per il patrimonio culturale (MD.P03.019.001) (Modulo)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement" (Insieme di parole chiave)