Electrical measurements of single walled carbon nanotubes horizontally grown by CVD on doped polysilicon electrodes (Comunicazione a convegno)

Type

• Comunicazione a convegno (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Electrical measurements of single walled carbon nanotubes horizontally grown by CVD on doped polysilicon electrodes (Comunicazione a convegno) (literal)

Anno

• 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Veronese G.P., F. Suriano, R. Rizzoli, R. Angelucci, F. Mancarella, G. Pizzochero, M.F. Bevilacqua (2007)
  Electrical measurements of single walled carbon nanotubes horizontally grown by CVD on doped polysilicon electrodes
  in E-MRS 2008, Strasburgo (Francia)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Veronese G.P., F. Suriano, R. Rizzoli, R. Angelucci, F. Mancarella, G. Pizzochero, M.F. Bevilacqua (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note

• Presentazione orale (R. Rizzoli) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Istituto IMM e ST-Microelectronics Napoli (literal)

Titolo

• Electrical measurements of single walled carbon nanotubes horizontally grown by CVD on doped polysilicon electrodes (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sintesi e caratterizzazione di materiali nanostrutturati a base di C e Si per applicazioni in sensoristica e nanoelettronica (MD.P05.017.001) (Modulo)

Autore CNR

• RENATO ANGELUCCI (Persona)
• Giulio Paolo Veronese (Persona)
• RITA RIZZOLI (Persona)
• FULVIO MANCARELLA (Unità di personale esterno)
• FRANCESCO SURIANO (Unità di personale esterno)
• GIULIO PIZZOCHERO (Persona)

Incoming links:

Autore CNR di

• RITA RIZZOLI (Persona)
• RENATO ANGELUCCI (Persona)
• GIULIO PIZZOCHERO (Persona)
• FRANCESCO SURIANO (Unità di personale esterno)
• Giulio Paolo Veronese (Persona)
• FULVIO MANCARELLA (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sintesi e caratterizzazione di materiali nanostrutturati a base di C e Si per applicazioni in sensoristica e nanoelettronica (MD.P05.017.001) (Modulo)