Nano beam and convergent beam elecron diffraction for strain anaysis in nano-electronics (Abstract/Poster in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Abstract/Poster in atti di convegno (Classe)

Label

• Nano beam and convergent beam elecron diffraction for strain anaysis in nano-electronics (Abstract/Poster in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Armigliato A., Balboni R., Migliori A. and Pizzochero G. (2007)
  Nano beam and convergent beam elecron diffraction for strain anaysis in nano-electronics
  in EMAS 2007 - Modern developments and applications in microbeam analysis, Anversa
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Armigliato A., Balboni R., Migliori A. and Pizzochero G. (literal)

Titolo

• Nano beam and convergent beam elecron diffraction for strain anaysis in nano-electronics (literal)

Prodotto di

• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• ANDREA MIGLIORI (Persona)
• GIULIO PIZZOCHERO (Persona)
• ALDO ARMIGLIATO (Persona)
• ROBERTO BALBONI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• ROBERTO BALBONI (Unità di personale interno)
• ANDREA MIGLIORI (Persona)
• GIULIO PIZZOCHERO (Persona)
• ALDO ARMIGLIATO (Persona)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)