In-depth analysis of the interfaces in GaAs/InGaP heterosystem (Comunicazione a convegno)

Type

• Comunicazione a convegno (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• In-depth analysis of the interfaces in GaAs/InGaP heterosystem (Comunicazione a convegno) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Pelosi C.1, Attolini G.1, Frigeri C.1, Bersani M.2, Giubertoni D.2, Vanzetti L.2, Kudela R.3 (2003)
  In-depth analysis of the interfaces in GaAs/InGaP heterosystem
  in DRIP X - 10h International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics of Semiconductors, Batz-sur-Mer (Francia), 29 sett. - 2 ott. 2003
  (literal)

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• Pelosi C.1, Attolini G.1, Frigeri C.1, Bersani M.2, Giubertoni D.2, Vanzetti L.2, Kudela R.3 (literal)

Pagina inizio

• 59 (literal)

Pagina fine

• 59 (literal)

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• Abstract book (literal)

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• 1IMEM-CNR, Parma, Italy; 2ITC-IRST, Povo, Trento, Italia; 3Institute of Electrical Engineering, Slovak Academy of Sciences, Bratislava, Slovakia (literal)

Titolo

• In-depth analysis of the interfaces in GaAs/InGaP heterosystem (literal)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)

Autore CNR

• CESARE FRIGERI (Persona)
• CLAUDIO PELOSI (Persona)
• GIOVANNI ATTOLINI (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "In-depth analysis of the interfaces in GaAs/InGaP heterosystem" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)

Autore CNR di

• GIOVANNI ATTOLINI (Unità di personale interno)
• CESARE FRIGERI (Persona)
• CLAUDIO PELOSI (Persona)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "In-depth analysis of the interfaces in GaAs/InGaP heterosystem" (Insieme di parole chiave)