Polarization and higher-order content measurement of a soft-x-ray monochromatized beam with Mo-Si multilayers (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Polarization and higher-order content measurement of a soft-x-ray monochromatized beam with Mo-Si multilayers (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Pelizzo, MG; Frassetto, F; Nicolosi, P; Giglia, A; Mahne, N; Nannarone, S (2006)
  Polarization and higher-order content measurement of a soft-x-ray monochromatized beam with Mo-Si multilayers
  in Applied optics
  (literal)

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• Pelizzo, MG; Frassetto, F; Nicolosi, P; Giglia, A; Mahne, N; Nannarone, S (literal)

Pagina inizio

• 1985 (literal)

Pagina fine

• 1992 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 45 (literal)

Rivista

• Applied optics (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 9 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• Ist Nazl Fis Mat, Lab Ultraviolet & Xray Opt Res, I-35131 Padua, Italy; Dipartimento Ingn Informaz, I-35131 Padua, Italy; Ist Nazl Fis Mat, Lab Tecnol Avanzate & Nanosci, Basovizza, TS, Italy; Univ Modena & Reggio Emilia, Dipartimento Ingn Mat & Ambiente, Modena, Italy (literal)

Titolo

• Polarization and higher-order content measurement of a soft-x-ray monochromatized beam with Mo-Si multilayers (literal)

Abstract

• A Mo-Si multilayer mirror has been used for determination of the ellipticity and higher-order content of a synchrotron beam. The method is based on the angular measure of multilayer reflectivity in the region of Bragg first- and second-order reflections. Beam parameters were derived by a fitting procedure. (c) 2006 Optical Society of America. (literal)

Prodotto di

• Sviluppo di strumentazione ottica e fotonica (Vis-UV-XUV-X) per impieghi scientifici (spaziali e radiazione di sincrotrone) ed industriali (MD.P03.010.001) (Modulo)
• Ottica e spettroscopia nell'intervallo spettrale UV-X soffici (MD.P03.009.001) (Modulo)

Autore CNR

• NICOLA MAHNE (Unità di personale interno)
• FABIO FRASSETTO (Persona)
• MARIA GUGLIELMINA PELIZZO (Persona)
• PIERGIORGIO NICOLOSI (Persona)
• PIERGIORGIO NICOLOSI (Unità di personale esterno)
• ANGELO GIGLIA (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Polarization and higher-order content measurement of a soft-x-ray monochromatized beam with Mo-Si multilayers" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• ANGELO GIGLIA (Persona)
• MARIA GUGLIELMINA PELIZZO (Persona)
• PIERGIORGIO NICOLOSI (Unità di personale esterno)
• PIERGIORGIO NICOLOSI (Persona)
• NICOLA MAHNE (Unità di personale interno)
• FABIO FRASSETTO (Persona)

Prodotto

• Sviluppo di strumentazione ottica e fotonica (Vis-UV-XUV-X) per impieghi scientifici (spaziali e radiazione di sincrotrone) ed industriali (MD.P03.010.001) (Modulo)
• Ottica e spettroscopia nell'intervallo spettrale UV-X soffici (MD.P03.009.001) (Modulo)

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• Applied optics (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Polarization and higher-order content measurement of a soft-x-ray monochromatized beam with Mo-Si multilayers" (Insieme di parole chiave)