Una tecnica interferometrica per la determinazione delle non linearità termiche nei vetri drogati da semiconduttori (Abstract/Poster in atti di convegno)

Type
Label
  • Una tecnica interferometrica per la determinazione delle non linearità termiche nei vetri drogati da semiconduttori (Abstract/Poster in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 1988-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • G. Abbate, G. Assanto, U. Bernini, S. De Nicola, P. Maddalena, P. Mormile, G. Pierattini, E. Santamato (1988)
    Una tecnica interferometrica per la determinazione delle non linearità termiche nei vetri drogati da semiconduttori
    in LXXIV Congresso SIF, Urbino 1988, Urbino, Italy
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • G. Abbate, G. Assanto, U. Bernini, S. De Nicola, P. Maddalena, P. Mormile, G. Pierattini, E. Santamato (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
  • Atti del LXXIV Congresso SIF,pag 192 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • Consiglio Nazionale delle Ricerche-Istituto di Cibernetica “E. Caianello”, Comprensorio “A. Olivetti”, Pozzuoli (Naples), Italy Dipartimento di Scienze Fisiche, Università “Federico II”, Napoli (literal)
Titolo
  • Una tecnica interferometrica per la determinazione delle non linearità termiche nei vetri drogati da semiconduttori (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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