Properties of submicron bicrystal Josephson junctions fabricated by Focused Ion Beam (Abstract/Poster in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Abstract/Poster in atti di convegno (Classe)

Label

• Properties of submicron bicrystal Josephson junctions fabricated by Focused Ion Beam (Abstract/Poster in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Testa G., Monaco A., Sarnelli E., Kang D.J., Tarte E., Menneima S. H., Blamire M. G. (2003)
  Properties of submicron bicrystal Josephson junctions fabricated by Focused Ion Beam
  in 6th European Conference on Applied Superconductivity, Sorrento (Napoli)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Testa G., Monaco A., Sarnelli E., Kang D.J., Tarte E., Menneima S. H., Blamire M. G. (literal)

Titolo

• Properties of submicron bicrystal Josephson junctions fabricated by Focused Ion Beam (literal)

Prodotto di

• Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti \"Eduardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR

• GIANLUCA TESTA (Unità di personale interno)
• ANTONIA MONACO (Unità di personale interno)
• ETTORE SARNELLI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti \"Eduardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR di

• ETTORE SARNELLI (Unità di personale interno)
• ANTONIA MONACO (Unità di personale interno)
• GIANLUCA TESTA (Unità di personale interno)