scanning tunneling microscopy
- Label
- scanning tunneling microscopy (literal)
- Membro di
- Parole chiave di "Metal Tungstates at the Ultimate Two-Dimensional Limit: Fabrication of a CuWO4 Nanophase" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Characterization of Si-doped GaAs corss-sectional surfaces via ab-initio simulations" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Local Electronic Properties of Corrugated Silicene Phases" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Local Electronic Structure and Density of Edge and Facet Atoms at Rh Nanoclusters Self-Assembled on a Graphene Template" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Modification of Molecular Spin Crossover in Ultrathin Films" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Mechanism of the short range ordering in a 2D binary alloy" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Thickness-dependent strain in epitaxial MgO layers on Ag(001)" (Insieme di parole chiave)
- Value
- scanning tunneling microscopy (literal)
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- Ha membro
- Parole chiave di "Local Electronic Properties of Corrugated Silicene Phases" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Characterization of Si-doped GaAs corss-sectional surfaces via ab-initio simulations" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Local Electronic Structure and Density of Edge and Facet Atoms at Rh Nanoclusters Self-Assembled on a Graphene Template" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Metal Tungstates at the Ultimate Two-Dimensional Limit: Fabrication of a CuWO4 Nanophase" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Modification of Molecular Spin Crossover in Ultrathin Films" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Mechanism of the short range ordering in a 2D binary alloy" (Insieme di parole chiave)
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