metrology
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- metrology (literal)
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- Parole chiave di "High-resolution absolute frequency referenced fiber optic sensor for quasi-static strain sensing" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Narrowband filter radiometer for ground-based measurements of global ultraviolet solar irradiance and total ozone" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Phase-shifting point-diffraction interferometer developed by using the electro-optic effect in ferroelectric crystals" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "New approaches towards nanometre accuracy in absolute planarity measurements" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Rapporto 3F-RT06001 - Misura di irradiamento nelle bande NIR e IR" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Potential use of V-channel Ge(220) monochromators in X-ray metrology and imaging" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Misure di parallelismo con metodi meccanici e interferometrici" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Lightweight active controlled primary mirror technology demonstrator" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "ALL-INTERFEROMETRIC 6-DOF SENSOR BASED ON THE LASER-SELF-MIXING" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Simple interferometric method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Evaluation of EPI forecasting model with inclusion of uncertainty in input value and traceable calibration" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Intraocular lenses with surface aspherization: interferometric study" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Absolute frequency metrology of molecular spectra by a 3-µm laser directly linked to mid-infrared comb" (Insieme di parole chiave)
- Parole chiave di "Iterative algorithm for three flat test" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Absolute frequency measurements of the 23S1-23P0,1,2 atomic Helium transitions around 1083 nm" (Insieme di parole chiave)
- Keywords of "Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates by a lateral-shear, wavelength scanning interferometer" (Insieme di parole chiave)
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