Superfici ed interfacce e fotoemissione inversa -SIPE (MD.P03.009.005)

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Label
  • Superfici ed interfacce e fotoemissione inversa -SIPE (MD.P03.009.005) (literal)
Prodotto
Codice
  • MD.P03.009.005 (literal)
Anno di chiusura previsto
  • 2016-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Istituto esecutore
Primo anno di attività
  • 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Abstract
  • Il modulo è focalizzato sullo studio della relazione fra proprietà strutturali ed elettroniche e magnetiche di sistemi a bassa dimensionalità (nanosistemi, nanotubi superfici ed interfacce, film ultrasottili di aggregati inorganici e organici su superfice) e si articola in due filoni: 1) Spettroscopie in regime di risposta lineare: informazioni sulla struttura elettronica (stati pieni/vuoti, allineamento dei livelli energetici nel trasporto alle giunzioni) che sono messe in relazione con la struttura atomica locale, sito di chemisorbimento in superfice, meccanismi di crescita e morfologia di nanostrutture e interfaccie. SIPE opera con spettroscopie lineari, elettroniche (UPS, XPS) con enfasi sulla fotoemissione inversa (IPS), e ottiche (assorbimento NEXAFS/EXAFS). Le proprietà strutturali (geometria atomica di chemisorbimento, effetti sul reticolo cristallino e sulla morfologia del substrato) sono studiate mediante diffrazione di raggi X e NEXAFS e loro modellizzazione. 2) Spettroscopie Time-Resolved: Analisi dei processi temporali mediante uso di spettroscopie non lineari con metodo del pump probe, connesse a sorgenti Lasers e Free Electron Lasers. (literal)
Nome
  • Superfici ed interfacce e fotoemissione inversa -SIPE (literal)
Descrizione
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