Ottica e spettroscopia nell'intervallo spettrale UV-X soffici (MD.P03.009.001)

Type
Label
  • Ottica e spettroscopia nell'intervallo spettrale UV-X soffici (MD.P03.009.001) (literal)
Prodotto
Codice
  • MD.P03.009.001 (literal)
Anno di chiusura previsto
  • 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Istituto esecutore
Primo anno di attività
  • 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Abstract
  • L'attività si articola lungo le linee: 1) Superfici ed interfacce nelle prestazioni di dispositivi ottici, 2) Films, interfacce e giunzioni in ossidi, 3) Proprietà microscopiche di molecole deposte. La spettroscopia ottica (assorbimento, magneto-ottica, emissione di fluorescenza e luminescenza, scattering speculare e diffuso, fotoemissione inversa) nell'intervallo spettrale visibile-raggi X soffici abbinata con spettroscopie elettroniche (XPS/UPS, AES, EELS) costituisce la modalità principale di indagine. Teoria e esperimenti complementari all'attività sono disponibili sulla base di collaborazioni. Le informazioni riguardano stati elettronici pieni/vuoti di superfice ed interfaccia e il ruolo nel trasporto alle giunzioni, struttura atomica locale, sito di chemisorbimento in superfice, meccanismi di crescita e morfologia di superfice ed interfaccia, costanti dielettriche. Il gruppo opera principalmente presso il TASC. Parte della attività è svolta presso il Dip.Ing.materiali Univ. Modena. Viene gestita la beamline BEAR,in regime di facility presso Elettra. Inoltre il gruppo opera presso il TASC l'apparato MBE per crescita di ossidi e l'apparato per fotoemissione inversa SIPE. (literal)
Nome
  • Ottica e spettroscopia nell'intervallo spettrale UV-X soffici (literal)
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