Semiconduttori innovativi per elettronica di potenza ed Rf (MD.P05.003.001)
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- Modulo (Classe)
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- Semiconduttori innovativi per elettronica di potenza ed Rf (MD.P05.003.001) (literal)
- Prodotto
- Elecrical activity and device limitations of defects in 3C-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Kinetic mechanism of the thermal-induced self-organization of Au/Si nanodroplets on Si(100): Size and roughness evolution (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nitrogen implantation to improve electron channel mobility in 4H SiC MOSFET (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Temperature dependence of the specific resistance in Ti/Al/Ni/Au contacts on n-type GaN (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- High spatial and energy resolution characterization of lateral inhomogeneous Schottky barriers by conductive atomic force microscopy (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Optical properties of 3C and 4H SiC for the fabrication of UV detectors with superior performances (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- From SiC to other related materials (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- Impact of surface morphology on the electrical properties of Al/Ti Ohmic contacts on Al-implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Ion irradiation of inhomogeneous Schottky barriers on silicon carbide (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Defects and electrical behavior in 1 MeV Si+-ion-irradiated 4H-SiC Schottky diodes (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale carrier transport in Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts on AlGaN epilayers grown on Si(111) (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- High responsivity 4H-SiC Schottky UV photodiodes based on the pinch-off surface effect (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale structural and electrical evolution of Ta- and Ti-based contacts on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Schottky-Ohmic Transition in Nickel Sllicide/SiC System: Is it Really a Solved Problem? (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Annealing behavior of Ta-based contacts on AlGaN/GAN heterostructures (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Structural and transport properties in alloyed Ti/Al Ohmic contacts formed on p-type Al-implanted 4H-SiC annealed at high temperature (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- 4H-SiC Schottky Photodiode Based Demonstrator Board for UV-Index Monitoring (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Micro- and Nano-Scale Electrical Characterization of Epitaxial Graphene on Off-Axis 4H-SiC (0001) (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electrical Properties of Self-Assembled Nano-Schottky Diodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Processing for SiC devices: new trends in metallization (Comunicazione a convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)
- Silicon Carbide: Defects and Devices (Comunicazione a convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)
- Fabbricazione di MOSFET ad elevata mobilità su 4H-SiC (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- Transport localization in heterogeneous Schottky barriers of quantum-defined metal films (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Fabbricazione di diodi Schottky su GaN su zaffiro (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- Electrical Characterization of Al Implanted 4H-SiC Layers by Four Point Probe and Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effects of a post-oxidation annealing in nitrous oxide on the morphological and electrical properties of SiO2/4H-SiC interfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- MOSFET verticali 1200 V in SiC (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale electrical and structural modification induced by rapid thermal oxidation of AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effects of different post-implantation annealing conditions on the electrical properties of interfaces to p-type implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Evolution of structural and electrical properties of Au/Ni contacts onto p-GaN after annealing (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- On the Aging Effects of 4H-SiC Schottky Photodiodes Under High Intensity Mercury Lamp Irradiation (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Microstructure and transport properties in alloyed Ohmic contacts to p-type SiC and GaN for power devices applications (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Recent advances on dielectrics technology for SiC and GaN power devices (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Challenges for energy efficient wide band gap semiconductors power devices (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Correlation between microstructure and temperature dependent electrical behavior of annealed Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts to AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Processing Issues for Reliable 4H-SiC MOSFET (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Electrical properties of CeO2 thin films deposited on AlGaN/GaN heterostructure (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Mechanism of Ohmic contact formation in Ti/Al bilayers on AlGaN/GaN heterostructures with a different crystalline quality (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Nanoscale characterization of interfaces at gate dielectrics on compound semiconductors (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Effects of thermal annealing in ion-implanted Gallium Nitride (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale probing of dielectric breakdown at SiO2/3C-SiC interfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Evolution of the electrical behaviour of GaN and AlGaN materials after high temperature annealing and thermal oxidation (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Influence of processing conditions on the behaviour of 4H-SiC MOSFETs (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Challenges for energy efficient wide band gap semiconductors power devices (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- Critical issues for interfaces to p-type SiC and GaN in power devices (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Influence of the surface morphology on the channel mobility of lateral implanted 4H-SiC(0001) metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electrical activation and carrier compensation in Si and Mg implanted GaN by scanning capacitance microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Carrier transport in annealed inhomogeneous Au/Ni/p-GaN interfaces (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Electrical and reliability investigation of AlGaN/GaN HEMTs grown on 8° off-axis 4H-SiC (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Interdigit 4H-SiC vertical Schottky diode for beta-voltaic applications (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- 4H-SiC Schottky Photodiodes for Ultraviolet Light Detection (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale Probing of Interfaces in GaN for Devices Applications (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Current transport in graphene/AlGaN/GaN heterostructures (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Structural defects and device electrical behaviour in AlGaN/GaN heterostructures grown on 8A degrees off-axis 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Study of Morphology, Electrical Activation and Contact formation of Ion Implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale characterization of electrical transport at metal/3C-SiC interfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Comparison between Ta- and Ti-based Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Conduction mechanisms in epitaxial NiO gate dielectric on AlGaN/GaN heterostructure (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- On the viability of Au/3C-SiC Schottky barrier diodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effect of Dopant Concentrations and Annealing Conditions on the Electrically Active Profiles and Lattice Damage in Al Implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Recent advances on passivation processes for SiC and GaN power devices (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- Poole-Frenkel emission in epitaxial nickel oxide on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Characterization of SiO2/SiC interfaces annealed in N2O or POCl3 (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale characterization of electrical transport at metal/3C-SiC interfaces (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Annealing temperature dependence of the electrically active profiles and surface roughness in multiple Al implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nano-Electro-Structural Evolution of Ni-Si Ohmic Contacts to 3C-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electrical Properties of Ni/GaN Schottky Contacts on High-temperature Annealed GaN Surfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Limiting mechanism of inversion channel mobility in Al-implanted lateral 4H-SiC metal-oxide semiconductor field-effect transistors (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Heteroepitaxial Growth of Ge Nanowires on Si Substrates (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- High permittivity cerium oxide thin films on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Improved Ni/3C-SiC contacts by effective contact area and conductivity increases at the nanoscale (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Highly Efficient Low Reverse Biased 4H-SiC Schottky Photodiodes for UV-Light Detection (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Processing Issues for Reliable 4H-SiC MOSFET (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale transport properties at silicon carbide interfaces (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Flusso di processo per la fabbricazione di MOSFET su 4H SiC con elevata mobilita (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- A nanoscale look in the channel of 4H-SiC lateral MOSFETs (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Progetto Nazionale PON - Ambition Power (PON01_00700) (Progetti) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1725)
- Impact of the Morphological and Electrical Properties of SiO2/4H-SiC Interfaces on the Behavior of 4H-SiC MOSFETs (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Barrier inhomogeneity and electrical properties of Pt/GaN Schottky contacts (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- cooperation project GALILEO between IMM-Catania and LMP-Tours (France), entitled Nanostructured processes for wide-band gap semiconductors, funded by the Italian-French University (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- MOS capacitors obtained by wet oxidation of n-type 4H-SiC pre-implanted with Nitrogen (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Current Transport in Ti/Al/Ni/Au Ohmic Contacts to GaN and AlGaN (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Ohmic Contact to SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Comparative study of gate oxide in 4H-SiC lateral MOSFETs subjected to post-deposition-annealing in N2O and POCl3 (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Method of fabricating electronic devices integrated in semiconductor substrates provided with gettering sites, and a device fabricated by the method (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Large area silicon carbide substrates and heteroepitaxial GaN for power devices applications (LAST - POWER) (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- Metodo per proteggere la superficie del 4H-SiC durante processi termici ad alta temperatura (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- Clustering of gold on 6H-SiC and local nanoscale electrical properties (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Two-dimensional electron gas insulation by local surface thin thermal oxidation in AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Epitaxial NiO gate dielectric on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Ge assisted 3C-SiC nucleation and growth by vapour phase epitaxy on on-axis 4H-SiC substrate (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Electrical behaviour of detective AlGaN/GaN heterostructures grown on misoriented (8°-off-axis) 4H-SiC substrates (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Probing at nanoscale underneath the gate oxides in 4H-SiC MOS-based devices annealed in N2O and POCI3 (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Thermal stability of the current transport mechanisms in Ni-based Ohmic contacts on n- and p-implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Ge Mediated Surface Preparation for Twin Free 3C-SiC Nucleation and Growth on Low Off-Axis 4H-SiC Substrate (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Fowler-Nordheim tunneling at SiO2/4H-SiC interfaces in metal-oxide-semiconductor field effect transistors (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Microstructure and current transport in Ti/Al/Ni/Au ohmic contacts to n-type AlGaN epilayers grown on Si(111) (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Comparative study of the current transport mechanisms in Ni2Si Ohmic contacts on n- and p-type implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Electrical characteristics of Schottky contacts on Ge-doped 4H-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Graphene: Synthesis and nanoscale characterization of electronic properties (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale reliability aspects of insulator onto wide band gap compounds (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- GaN High Electron Mobility Transistors: a competitor for SiC Transistors? (Comunicazione a convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)
- SiO2/4H-SiC interface doping during post-deposition-annealing of the oxide in N2O or POCl3 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- High efficiency 4H-SiC Schottky UV-photodiodes using self-aligned semitransparent contacts (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Experimental characterization and numerical analysis of the 4H-SiC p-i-n diodes static and transient behaviour (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Quantitative determination of depth carrier profiles in ion-implanted Gallium Nitride (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Energy efficiency Through Novel AlGaN/GaN heterostructures (ETNA) (Progetti) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1725)
- Acceptor, compensation, and mobility profiles in multiple Al implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Photocurrent gain in 4H-SiC interdigit Schottky UV detectors with a thermally grown oxide layer (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Correlation between nanoscale and macroscopic properties of ohmic and Schottky contacts on n-type GaN (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Nanoscale electro-structural characterisation of ohmic contacts formed on p-type implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Near-surface processing on AlGaN/GaN heterostructures: a nanoscale electrical and structural characterization (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoimaging in SiC and Related Materials: Beyond Surface Morphology to Charge Transport and Physical Parameters Mapping (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electrical Properties of Inhomogeneous Pt/GaN Schottky Barrier (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Effects of thermal annealing in ion-implanted Gallium Nitride (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Characterization of MOS capacitors fabricated on n-type 4H-SiC implanted with nitrogen at high dose (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Two Dimensional Imaging of the Laterally Inhomogeneous Au/4H-SiC Schottky Barrier by Conductive Atomic Force Microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Activation Study of Implanted N+ in 6H-SiC by Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Ohmic contacts to SiC (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
- Self-organization of gold nanoclusters on hexagonal SiC and SiO2 surfaces (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Effect of Thermal Annealing on the Electrically Active Profiles and Surface Roughness in Multiple Al Implanted 4H-SiC (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Self-organization of Au nanoclusters on the SiO2 surface induced by 200 keV-Ar+ irradiation (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Surface and interface issues in wide band gap semiconductor electronics (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Impact of Morphological Features on the Dielectric Breakdown at SiO2/3C-SiC Interfaces (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Evolution of the electrical characteristics of Pt/3C-SiC Schottky contacts upon thermal annealing (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Influence of substrate dielectric permittivity on local capacitive behavior in graphene (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Demonstration of defect-induced limitations on the properties of Au/3CSiC Schottky barrier diodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Temperature and Light Induced Effects on the Capacitance of 4H-SiC Schottky Photodiodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Reliability of thin thermally grown SiO2 on 3C-SiC studied by scanning probe microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Interdigit 4H-SiC Vertical Schottky Diode for Betavoltaic Applications (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Microstructure of Au nanoclusters formed in and on SiO2 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Impact of surface processing on the electrical properties of p-type implanted 4H-SiC for power devices (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Comparison of Si, Sapphire, SiC, and GaN Substrates for HEMT Epitaxy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electrical behavior of AlGaN/GaN heterostuctures upon high-temperature selective oxidation (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Investigation on the Use of Nitrogen Implantation to Improve the Performance of N-Channel Enhancement 4H-SiC MOSFETs (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- High density Wide band gap (WBG) Diode: structure and process (Brevetto) (Brevetto)
- Realizzazione di Rivelatori UV in 4H-SiC ad alta efficienza (Risultati di valorizzazione applicativa) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)
- Electro-optical response of ion-irradiated 4H-SiC Schottky ultraviolet photodetectors (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effect of graphene/4H-SiC(0001) interface on electrostatic properties in graphene (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Method for manufacturing isolating structures (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Method for manufacturing electronic devices in semiconductor substrates provided with gettering sites (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Thermodynamic Properties of Supported and Embedded Metallic Nanocrystals: Gold on/in SiO2 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Process for manufacturing a schottky contact on a semiconductor substrate (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Temperature behavior of inhomogeneous Pt/GaN Schottky contacts (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Procedimento di formazione di contatti ohmici su carburo di silicio con migliorate caratteristiche morfologiche ed elettriche dell'interfaccia (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Correlating macroscopic and nanoscale electrical modifications of SiO2/4H-SiC interfaces upon post-oxidation-annealing in N2O and POCl3 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- A look underneath the SiO2/4H-SiC interface after N2O thermal treatments (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Charge Transport in Microelectronics Materials at Nanoscale by Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Effect of Thermal Annealing on the Electrically Active Profiles and Surface Roughness in Multiple Al Implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Influence of high-temperature GaN annealed surface on the electrical properties of Ni/GaN Schottky contacts (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electro-structural evolution and Schottky barrier height in annealed Au/Ni contacts onto p-GaN (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Codice
- MD.P05.003.001 (literal)
- Anno di chiusura previsto
- 2016-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Istituto esecutore
- Primo anno di attività
- 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Abstract
- L'attività del modulo è incentrata sullo studio di processi per dispositivi di potenza su semiconduttori ad ampia banda proibita (SiC e GaN). L'obiettivo principale è sviluppare conoscenze di base sulla tecnologia per SiC e GaN (ad esempio: metallizzazioni, processi di ossidazione, attacchi, drogaggi selettivi, processi tecnologici per dispositivi Schottky, JBS e p-n in SiC, dielettrici di gate per MOSFET in SiC e MISHFET in GaN, HEMT in GaN con tecnologia E-mode). Particolare rilevanza è data alla comprensione dei meccanismi di trasporto in interfacce (metallo/semiconduttore, ossido/semiconduttore ), attualmente tra le questioni fondamentali per l'ottimizzazione delle prestazioni dei dispositivi in SiC e GaN in termini di efficienza energetica. Tali sistemi vengono caratterizzati sia da un punto di vista morfologico e strutturale, che da un punto di vista elettrico ed affidabilistico (tramite la fabbricazione di test pattern e dispositivi), correlando le proprietà di trasporto a livello microscopico con le caratteristiche dei dispositivi. Parte dell'attività viene svolta nell'ambito di progetti di ricerca di rilevanza internazionale o collaborazioni con l'industria. (literal)
- Nome
- Semiconduttori innovativi per elettronica di potenza ed Rf (literal)
- Descrizione
- Descrizione del modulo "Semiconduttori innovativi per elettronica di potenza ed Rf (MD.P05.003.001)" (Descrizione modulo)
- Descrizione collaborazioni del modulo "Semiconduttori innovativi per elettronica di potenza ed Rf (MD.P05.003.001)" (Descrizione collaborazioni)
- Descrizione dello stato di avanzamento delle attività del modulo "Semiconduttori innovativi per elettronica di potenza ed Rf (MD.P05.003.001)" (Descrizione stato avanzamento attività)
- Modulo di
- Gestore
- FABRIZIO ROCCAFORTE (Persona)
Incoming links:
- Prodotto di
- Effect of Thermal Annealing on the Electrically Active Profiles and Surface Roughness in Multiple Al Implanted 4H-SiC (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Impact of Morphological Features on the Dielectric Breakdown at SiO2/3C-SiC Interfaces (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Evolution of the electrical characteristics of Pt/3C-SiC Schottky contacts upon thermal annealing (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Effects of thermal annealing in ion-implanted Gallium Nitride (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Defects and electrical behavior in 1 MeV Si+-ion-irradiated 4H-SiC Schottky diodes (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale carrier transport in Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts on AlGaN epilayers grown on Si(111) (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- High responsivity 4H-SiC Schottky UV photodiodes based on the pinch-off surface effect (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Temperature behavior of inhomogeneous Pt/GaN Schottky contacts (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nitrogen implantation to improve electron channel mobility in 4H SiC MOSFET (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Electrical behavior of AlGaN/GaN heterostuctures upon high-temperature selective oxidation (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Surface and interface issues in wide band gap semiconductor electronics (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Demonstration of defect-induced limitations on the properties of Au/3CSiC Schottky barrier diodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Reliability of thin thermally grown SiO2 on 3C-SiC studied by scanning probe microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Interdigit 4H-SiC Vertical Schottky Diode for Betavoltaic Applications (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale electro-structural characterisation of ohmic contacts formed on p-type implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Near-surface processing on AlGaN/GaN heterostructures: a nanoscale electrical and structural characterization (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Transport localization in heterogeneous Schottky barriers of quantum-defined metal films (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Temperature dependence of the specific resistance in Ti/Al/Ni/Au contacts on n-type GaN (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- High spatial and energy resolution characterization of lateral inhomogeneous Schottky barriers by conductive atomic force microscopy (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Investigation on the Use of Nitrogen Implantation to Improve the Performance of N-Channel Enhancement 4H-SiC MOSFETs (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electro-optical response of ion-irradiated 4H-SiC Schottky ultraviolet photodetectors (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Influence of high-temperature GaN annealed surface on the electrical properties of Ni/GaN Schottky contacts (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- On the Aging Effects of 4H-SiC Schottky Photodiodes Under High Intensity Mercury Lamp Irradiation (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale probing of dielectric breakdown at SiO2/3C-SiC interfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Evolution of the electrical behaviour of GaN and AlGaN materials after high temperature annealing and thermal oxidation (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Structural and transport properties in alloyed Ti/Al Ohmic contacts formed on p-type Al-implanted 4H-SiC annealed at high temperature (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Ion irradiation of inhomogeneous Schottky barriers on silicon carbide (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Microstructure and current transport in Ti/Al/Ni/Au ohmic contacts to n-type AlGaN epilayers grown on Si(111) (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- High efficiency 4H-SiC Schottky UV-photodiodes using self-aligned semitransparent contacts (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Experimental characterization and numerical analysis of the 4H-SiC p-i-n diodes static and transient behaviour (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Quantitative determination of depth carrier profiles in ion-implanted Gallium Nitride (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Acceptor, compensation, and mobility profiles in multiple Al implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Photocurrent gain in 4H-SiC interdigit Schottky UV detectors with a thermally grown oxide layer (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Barrier inhomogeneity and electrical properties of Pt/GaN Schottky contacts (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- MOS capacitors obtained by wet oxidation of n-type 4H-SiC pre-implanted with Nitrogen (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Two-dimensional electron gas insulation by local surface thin thermal oxidation in AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Improved Ni/3C-SiC contacts by effective contact area and conductivity increases at the nanoscale (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Highly Efficient Low Reverse Biased 4H-SiC Schottky Photodiodes for UV-Light Detection (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale transport properties at silicon carbide interfaces (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Structural defects and device electrical behaviour in AlGaN/GaN heterostructures grown on 8A degrees off-axis 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Study of Morphology, Electrical Activation and Contact formation of Ion Implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale characterization of electrical transport at metal/3C-SiC interfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- On the viability of Au/3C-SiC Schottky barrier diodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effect of Dopant Concentrations and Annealing Conditions on the Electrically Active Profiles and Lattice Damage in Al Implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nanoscale characterization of electrical transport at metal/3C-SiC interfaces (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Limiting mechanism of inversion channel mobility in Al-implanted lateral 4H-SiC metal-oxide semiconductor field-effect transistors (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Charge Transport in Microelectronics Materials at Nanoscale by Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Effect of Thermal Annealing on the Electrically Active Profiles and Surface Roughness in Multiple Al Implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Elecrical activity and device limitations of defects in 3C-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Characterization of MOS capacitors fabricated on n-type 4H-SiC implanted with nitrogen at high dose (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Two Dimensional Imaging of the Laterally Inhomogeneous Au/4H-SiC Schottky Barrier by Conductive Atomic Force Microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electrical behaviour of detective AlGaN/GaN heterostructures grown on misoriented (8°-off-axis) 4H-SiC substrates (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Current Transport in Ti/Al/Ni/Au Ohmic Contacts to GaN and AlGaN (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Ohmic Contact to SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Optical properties of 3C and 4H SiC for the fabrication of UV detectors with superior performances (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- From SiC to other related materials (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- Processing for SiC devices: new trends in metallization (Comunicazione a convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)
- Silicon Carbide: Defects and Devices (Comunicazione a convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)
- Realizzazione di Rivelatori UV in 4H-SiC ad alta efficienza (Risultati di valorizzazione applicativa) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)
- Ohmic contacts to SiC (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (Prodotto della ricerca)
- Method of fabricating electronic devices integrated in semiconductor substrates provided with gettering sites, and a device fabricated by the method (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Fabbricazione di MOSFET ad elevata mobilità su 4H-SiC (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- Fabbricazione di diodi Schottky su GaN su zaffiro (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- MOSFET verticali 1200 V in SiC (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- Method for manufacturing isolating structures (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Method for manufacturing electronic devices in semiconductor substrates provided with gettering sites (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Process for manufacturing a schottky contact on a semiconductor substrate (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Procedimento di formazione di contatti ohmici su carburo di silicio con migliorate caratteristiche morfologiche ed elettriche dell'interfaccia (Brevetto) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)
- Flusso di processo per la fabbricazione di MOSFET su 4H SiC con elevata mobilita (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- cooperation project GALILEO between IMM-Catania and LMP-Tours (France), entitled Nanostructured processes for wide-band gap semiconductors, funded by the Italian-French University (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- Large area silicon carbide substrates and heteroepitaxial GaN for power devices applications (LAST - POWER) (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- Metodo per proteggere la superficie del 4H-SiC durante processi termici ad alta temperatura (Risultati di valorizzazione applicativa) (Prodotto della ricerca)
- Electrical Properties of Self-Assembled Nano-Schottky Diodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Kinetic mechanism of the thermal-induced self-organization of Au/Si nanodroplets on Si(100): Size and roughness evolution (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Electrical activation and carrier compensation in Si and Mg implanted GaN by scanning capacitance microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Clustering of gold on 6H-SiC and local nanoscale electrical properties (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Annealing behavior of Ta-based contacts on AlGaN/GAN heterostructures (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Poole-Frenkel emission in epitaxial nickel oxide on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Self-organization of gold nanoclusters on hexagonal SiC and SiO2 surfaces (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Self-organization of Au nanoclusters on the SiO2 surface induced by 200 keV-Ar+ irradiation (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Microstructure of Au nanoclusters formed in and on SiO2 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- 4H-SiC Schottky Photodiode Based Demonstrator Board for UV-Index Monitoring (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Effects of thermal annealing in ion-implanted Gallium Nitride (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Correlation between nanoscale and macroscopic properties of ohmic and Schottky contacts on n-type GaN (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Heteroepitaxial Growth of Ge Nanowires on Si Substrates (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Epitaxial NiO gate dielectric on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Correlating macroscopic and nanoscale electrical modifications of SiO2/4H-SiC interfaces upon post-oxidation-annealing in N2O and POCl3 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effects of different post-implantation annealing conditions on the electrical properties of interfaces to p-type implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Evolution of structural and electrical properties of Au/Ni contacts onto p-GaN after annealing (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Microstructure and transport properties in alloyed Ohmic contacts to p-type SiC and GaN for power devices applications (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Thermodynamic Properties of Supported and Embedded Metallic Nanocrystals: Gold on/in SiO2 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Critical issues for interfaces to p-type SiC and GaN in power devices (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Influence of the surface morphology on the channel mobility of lateral implanted 4H-SiC(0001) metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Temperature and Light Induced Effects on the Capacitance of 4H-SiC Schottky Photodiodes (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Activation Study of Implanted N+ in 6H-SiC by Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Effect of graphene/4H-SiC(0001) interface on electrostatic properties in graphene (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
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- Electrical Properties of Inhomogeneous Pt/GaN Schottky Barrier (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale structural and electrical evolution of Ta- and Ti-based contacts on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- High permittivity cerium oxide thin films on AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- A look underneath the SiO2/4H-SiC interface after N2O thermal treatments (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Electro-structural evolution and Schottky barrier height in annealed Au/Ni contacts onto p-GaN (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Electrical Characterization of Al Implanted 4H-SiC Layers by Four Point Probe and Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Graphene: Synthesis and nanoscale characterization of electronic properties (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Micro- and Nano-Scale Electrical Characterization of Epitaxial Graphene on Off-Axis 4H-SiC (0001) (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Impact of the Morphological and Electrical Properties of SiO2/4H-SiC Interfaces on the Behavior of 4H-SiC MOSFETs (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Correlation between microstructure and temperature dependent electrical behavior of annealed Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts to AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Comparison between Ta- and Ti-based Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Conduction mechanisms in epitaxial NiO gate dielectric on AlGaN/GaN heterostructure (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Recent advances on passivation processes for SiC and GaN power devices (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- Effects of a post-oxidation annealing in nitrous oxide on the morphological and electrical properties of SiO2/4H-SiC interfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Impact of surface morphology on the electrical properties of Al/Ti Ohmic contacts on Al-implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Annealing temperature dependence of the electrically active profiles and surface roughness in multiple Al implanted 4H-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Nano-Electro-Structural Evolution of Ni-Si Ohmic Contacts to 3C-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Electrical Properties of Ni/GaN Schottky Contacts on High-temperature Annealed GaN Surfaces (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- SiO2/4H-SiC interface doping during post-deposition-annealing of the oxide in N2O or POCl3 (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Influence of processing conditions on the behaviour of 4H-SiC MOSFETs (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- Challenges for energy efficient wide band gap semiconductors power devices (Comunicazione a convegno) (Prodotto della ricerca)
- Nanoscale electrical and structural modification induced by rapid thermal oxidation of AlGaN/GaN heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- GaN High Electron Mobility Transistors: a competitor for SiC Transistors? (Comunicazione a convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)
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- Characterization of SiO2/SiC interfaces annealed in N2O or POCl3 (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
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- Mechanism of Ohmic contact formation in Ti/Al bilayers on AlGaN/GaN heterostructures with a different crystalline quality (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
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- Recent advances on dielectrics technology for SiC and GaN power devices (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Challenges for energy efficient wide band gap semiconductors power devices (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
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