Keywords of "Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults"
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- Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
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- 4H-SiC (Parola chiave)
- Photoluminescence (Parola chiave)
- Micro-raman (Parola chiave)
- Stacking faults (Parola chiave)
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